DIC数字散斑系统

【设备简介】

XTDIC 三维全场变形测量及分析系统是一种非接触式光学三维测量系统。用于物体表面形貌、位移以及应变的测量和分析，并得到三维应变场数据测量结果直观显示。

【设备原理】

系统采用两个高精度摄像机实时采集物体各个变形阶段的散斑图像，利用数字图像相关算法实现物体表面变形点的匹配，根据各点的视差数据，重建物体表面计算点的三位坐标，并通过比较每一变形状态测量区内各点的三位坐标的变化得到物面的位移场，进一步计算得到物面的应变场。系统集成了动态变形系统与轨迹姿态分析系统，在散斑计算的同时对物面特殊点的位移变化和轨迹姿态进一步分析计算。

【设备功能】

采用最新的软件架构，模块化设计，开放化接口；全新的系统界面，扁平显示效果；多功能系统测量头， 简洁实用；升级核心算法，运算速度显著提升。

【系统组成】

（1）测量头：含 2 个相机、2 个专用镜头、光源以及横梁；

（2）支撑架：三脚架、云台；

（3）控制箱；

（4）高性能计算机；

（5）XTDIC 软件；

【主要技术参数】

一、单/双相机均配置：

     （1）分辨率：2448×2048 Pixel

     （2）像元大小：3.45µm

     （3）帧率：70fps

二、单/双相机镜头：已有12mm,25mm,30mm,可配 8mm，16mm，25mm，35mm；

三、光源：补光设备，选配 12P、24P 频闪灯；

四、横梁：负责固定相机位置和角度；可选配 500mm 和 1000mm；

五、控制箱：最快输出 10Khz 的触发输出，以及 720W 的电源供应。集成有 13 位精度 AD 转换，12 位 DA 转换,满足 DIC 系统的绝大部分硬件支持。

【基本信息】